Как анализировать данные сканирующих туннельных микроскопов

Созданные чешскими учеными компьютерные модели помогли разработать новые способы анализа изображений, получаемых сканирующими модельными микроскопами, о чем было сообщено в журнале Physical Review Letters.

Ученые из исследовательского центра Julich и Чешской Академии наук создали компьютерную модель работы СТМ и анализа полученных изображений. Сравнение этой модели с реальными результатами показало полное совпадение, а значит, модель  можно использовать для дальнейшего развития такого метода работы.

В работе с СТМ был в последнее время совершен большой прорыв, так как добавление отдельных молекул водорода или окиси углерода  к острию СТМ резко повысило их чувствительность и дало возможность использовать их как атомно-силовой микроскоп АСМ и изучать с их помощью атомную структуру материи.

Методика присоединения молекул уже дала прекрасные результаты для улучшения острия АТМ , причем выяснилось, что она хорошо работает при туннельной спектроскопии неупруго рассеянных электронов.

Компьютерная модель чешских ученых даст возможность добиваться лучших результатов при туннельной спектроскопии и поможет дальнейшему развитию нанотехнологий.

Источник иллюстрации: journals.aps.org